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Sotto la pressione di prova in sede di QFN20-0.5 schegge di bruciare un invecchiamento Sede di dimensioni 4*4mm, Pin a distanza di 0,5 mm

La STRUTTURA DEL prodotto & Electric] stabile, semplice e di facile applicazione.L'uso di PEI&PES] di Alta e Bassa temperatura (- 55 C - +170 c).L'Uso del Metallo conduttore giapponese NGK] miliardi di ECU, La resistenza alla fatica e ad alta e Bassa temperatura (- 50 C - +900 c) e la Buona conduttività Elettrica.Questo tipo di Test può essere] posto in prova a 2.0MM 0.5MM tra lo spessore del Chip.La DURATA di Vita raggiunge 100.000 Volte]

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Silice colloidale usato]PEI&PESAlle alte E Basse Temperature (-55℃~+170℃)。

IL Metallo conduttore con il Giappone.NGKMiliardi di ECU, La resistenza alla fatica e ad alta e Bassa temperatura (-50℃~+900C) e la Buona conduttività Elettrica.

Questo tipo di Test può essere] Chip di prova in sede di spessore0.5MMA2.0MMTra di loro.

La DURATA DI VITA DI raggiungere]100000Volta

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