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Sotto la pressione di prova in sede di TQFN52-0.4 schegge QFN52 Sede Sede di dimensioni 6*6mm invecchiamento.

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Silice colloidale usato]PEI&PESAlle alte E Basse Temperature (-55℃~+170℃)。

IL Metallo conduttore con il Giappone.NGKMiliardi di ECU, La resistenza alla fatica e ad alta e Bassa temperatura (-50℃~+900C) e la Buona conduttività Elettrica.

Questo tipo di Test può essere] Chip di prova in sede di spessore0.5MMA2.0MMTra di loro.

La DURATA DI VITA DI raggiungere]100000Volta

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