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IC51-0324-805 Test Sede Sede Sede di Programmazione ICsocketFP32 invecchiamento 0,5 - schegge di distanza

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L'invecchiamento QFP64 posto Sotto pressione la distanza OTQ-64-0.5-01LQFP64TQFP64 Test Sede 0,5 QFP44 bruciando bruciando placcato d'Oro posto Sotto la pressione di un doppio contatto OTQ-44-0.8-14 Chip Test Sede QFP80 bruciando bruciando il posto di programmazione la distanza in sede di 0,5 OTQ-80-0.5-02 Chip Test Sede titolare QFP48I Test Sede FPQ-48-0.5-06 QFP48IC presa STM32FSTM32L posto Vuoto.
43.56 41.58 69.30 41.58
   
QFPTQFPLQFP48 DIP48 posto a Base di bruciare un programmatore Test di Base di programmazione. L'invecchiamento di 0,8 mm di distanza QFP32 posto posto direttamente I produttori di TQFP32FQFP32 Flip di programmazione e di Test QFP64 bruciando posto Sotto pressione la distanza di programmazione 0,5 posto posto OTQ-64-0.5-01 prova I produttori di Chip La Programmazione di un invecchiamento FPQ-64-0.5-06 STM8SSTM32QFP64 adattatore di presa ZY5
44.55 34.65 49.50 43.56
   
La distanza tra la sede Sede QFP48 bruciare 0,5 QFN-48-0.5icSocket doppio piatto il Test di Base Zlg svuotato per bruciare 3000U/280U celte posto posto QFP44 0.8MM bruciare. Sotto la pressione di schegge di Programmazione OTQ-100-0.5-09 placcato d'Oro posto posto QFP100-0.5 Chip di bruciare il Test di Base QFP32 (5 * 5) a posto - - STM32/8 Test Sede Sede PARZIALE di invecchiamento.
64.35 29.70 57.42 41.58

 

HMILUQFP32 - schegge di invecchiamento.

Introduzione di prodotti di

 

Impieghi del prodotto E un Banco di prova per la Programmazione di Base, QFP32 ic di programmatore, Test
IL Pacchetto QFP32, PQFP32, TQFP32, portare la distanza di 0,5 mm
IL Test di Base IC51-0324-1498

 IL tipo di prodotto IC51-0324-805 corrispondente all'estero:

Le dimensioni

Il posto QFP32 DIP32 di programmazione / Test di Base applicabile Chip informazioni specifiche, con adattatore di Dimensione:

 

Tipo Portare la distanza (mm) Posizione dei Piedi A*B(mm) C*D(mm) E(mm) G*H(mm)
IC51-0324-1498 0.5
32 7*7 9*9 8.4 30.0*35.5

 

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